مطياف الكتلة

يختلف التحليل بواسطة مطياف الكتلة عن المطيافيات الأخرى في أن جزيئات المادة المطلوب تحليلها بواسطة جهاز مطياف الكتلة تتعرض إلى قدر عالى من الطاقة ، ويكون أكبر بكثير من الطاقة اللازمة لعملية الإنتقالات التي تحدث في حالة التحليل بالأشعة تحت الحمراء أو المرئية أو فوق البنفسجية.

يتم قذف العينة bombarding بواسطة حزمة من الإليكترونات electron beam سريعة الحركة فتمتص العينة هذه الطاقة ، ويؤدي هذا الإمتصاص الطاقي إلى انفصال أليكترون أو أكثر من الجزىء أى تحدث عملية تأين ionization للجزىء . وتتكون أيونات موجبة positive ions للجزىء الأصلى بالاضافة إلى تكسير بعض الروابط الضعيفة فى الجزىء مما يؤدى إلى تكوين أيونات صغيرة أخرى تسمى شظايا fragments

وعند تعرض الجزىء لهذه الطاقة الهائلة الناتجة عن حزمة الأليكترونات ، يتكون عدد من الأيونات الموجبة تختلف عن بعضها فى الكتلة mass (m) والشحنة charge (e) . ولذلك يتم فصل هذه الأيونات على أساس إختلافها فى نسبة الكتلة إلى الشحنة m / e بإستخدام مجال مغناطيسى ، أو بإستخدام مجال مغناطيسى مزدوج مع مجال كهربى. وبذلك يتم تسجيل نتائج التحليل فى صورة طيف كتلي mass spectrum يوضح كتلة هذه الأيونات وتركيزها.

وبذلك نجد أن تحليل العينات باستخدام جهاز Mass spectrometer يعتمد على عمليتين أساسيتين تحدث للمركب بعد قذفه بحزمة من الأليكترونات هما:

1. التأين ionization
2. التكسير fragmentation

عملية التأين: وفيه يحدث فقد أليكترون واحد من الجزىء ، ويتكون ما يسمى بالأيون الجزيئى molecular ion وكتلة هذا الأيون تساوى كتلة الجزىء وذلك لأن كتلة الأليكترون الذى فقده ضئيلة جداً جداً لاتؤثر على وزنه الجزيئي.